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當前位置:首頁  >  產品展示  >  探針臺系統  >  GP探針臺系列  >  GP200SiPH硅光探針臺

硅光探針臺

簡要描述:硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。
GP200擁有穩定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質量。優異的光學系統結合分辨率<2μm的針座系統,確保扎針的穩定性。

  • 產品型號:GP200SiPH
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-07
  • 訪  問  量:2578

詳細介紹

型號:GP200-SiPH

8英寸硅光測試手動探針臺

硅光探針臺應用:GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。

XY行程

快速定位行程:210mm×210mm; 精調行程: 210mm×210mm ,

精調分辨率:≤ 1.0 μm;驅動方式:手動

Z軸行程

10mm;驅動方式:手動  

Theta旋轉

快速旋轉角度:360°;精調角度:±15°,精調分辨率:<0.02°;驅動方式:手動

Chuck臺

尺寸:203mm(8inch) ;真空盤可調節高度:±5mm

真空快速切換開關,真空調節檔位:Center、2’、4’、8’

安裝方式:真空盤與主體絕緣

臺面精度

平面度:<10 μm

快速拉出結構

行程:100mm



 

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