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  • 2023

    5-16

    一、探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。二、背景介紹:無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺,x-y向工作臺都是其核心的部分。有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是x-y工作臺的故障,而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的,所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。本文僅對自動探針測試臺x-y工作臺的維護與保養作一介紹。三、特點分析...

  • 2023

    4-20

    一、半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。二、維護與保養:(1)相對于平面電機工作臺,絲杠導軌結構的工作臺結構組成較復雜,工作臺由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺由兩個步進電機分別驅動x、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動,導向部分采用精密直線滾動導軌。(2)由于運動部分全部采用滾動功能部件,所以具有傳動效率高、摩擦力矩小,使用壽命長等特點。這種結構的工作...

  • 2023

    3-27

    射頻探針臺是一種用于電磁兼容性測試的設備,它通過測量電子設備或系統的輻射和傳導干擾水平,評估其對其他設備或系統的影響。廣泛應用于電子設備、通信設備、軍事設備、航空航天設備等領域。它們可以用于測量各種設備或系統的輻射和傳導干擾水平,評估其對其他設備或系統的影響。在電子產品研發、生產和測試過程中,也扮演著重要的角色。一、工作原理是利用探針吸收電磁能量,將其轉化為電信號輸出,從而測量電磁輻射和傳導干擾水平。在測試時,將探針放置在被測設備或系統的表面,然后通過連接測試設備進行測量,從...

  • 2023

    3-15

    一、應用原理:(1)探針卡(probecard)探針卡是自動測試機與待測器件(DUT)之間的接口,在電學測試中通過探針傳遞進出wafer的電流。(2)探針臺(prober)因此測試對于檢驗芯片的功能性來說是一項非常重要的工作,硅片測試能夠分辨一個好的芯片和一個有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導通狀態下漏源之間的導通電阻。二、發展背景介紹:(1)半導體檢測貫穿半導體設計、晶圓制造、封裝三大流程。半導體制造工藝十分復雜,包含成百上千道工序,每一道出錯都可能影響芯片功效。為了提...

  • 2023

    2-28

    射頻探針是我們在片測試時不可少的工具,它在射頻產品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用:從技術開發,模型參數提取,設計驗證及調試一直到小規模生產測試和最終的生產測試。通過使用射頻探針,人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發時間縮短并且大大降低開發新產品的成本。基本要求和工作原理:1、射頻探針的50-Ω平面傳輸線應當直接與DUT壓點相接觸而不用接觸導線。對于微帶線和隨后的共面探針設計,探針的接觸是用小的金屬球來實現的,這個金屬球要足夠大以保證可靠且...

  • 2023

    2-23

    ESD測試設備是專門測量電靜電放電所產生的能量、電壓和電流的儀器,具有以下特點:1、精確性:能夠測量靜電放電所產生的能量、電壓和電流,具有高度的準確性。2、穩定性:檢測結果穩定可靠,能夠長時間保持穩定性。3、多功能性:可以測量不同類型和功率等級的ESD,如人體模擬、直接放電和線間放電等,具有多種測試功能。4、高質量:采用高品質的材料和先進的制造工藝,具有高度的可靠性和耐用性。5、易于使用:操作簡單方便,用戶可以通過簡單的操作完成測試過程。6、自動化程度高:具有高度的自動化程度...

  • 2023

    1-13

    一、包含有太赫茲有源負載牽引系統、Maury微波校準件、Maury微波適配器、微波射頻測試附件、波導轉接頭、同軸轉接頭、高速調諧器Tuner、自動阻抗調諧器、負載牽引、Loadpull、阻抗-MT2000混合信號有源負載牽等。二、直流電源的基本功能是提供穩定純凈的直流電源,設置電壓源或電流源,功率分析測量功能,監測輸出電壓和電流,輸出電壓、電流、功率變化的高速分析采集記錄輸出電壓波形編輯,負載變化快速恢復功能脈沖電源設置。三、功率計是射頻信號功率測量的標準設備。功率計不能區分...

  • 2023

    1-10

    探針臺探針是電測試的接觸媒介,為電子五金元器件。探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上,從而可以與測試儀器、半導體測試系統配合來測試芯、半導體器件。這些測試可以很簡單,例如連續性或隔離檢查。也可以很復雜,包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產過程中多次測試芯片器件,這可以提供有關哪些工藝步驟將缺陷引入產品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯,這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要。探針臺還...

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